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日本MIC超高精度、超精密電阻檢測AE-163D 非常適合用于 B、C、D、F、G、J、K 級、插入、melph 、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機
更新日期：2024-03-20 訪問量：1297
日本MIC兼容超小芯片高精度、數字電阻檢測器AE-162L D、F、G、J、K級超小尖頭（0201、03015）兼容編帶機 0201、03015尺寸超小型芯片兼容（測量功率0.02W以下/測量端子開路電壓9V以下）
更新日期：2024-03-20 訪問量：1179
日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E 由于模數隔離提高了抗噪性，因此穩定性高 兼容極小的芯片（低功耗測量） 超高速 0.7msec.（代表值）
更新日期：2024-03-20 訪問量：1201
日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162D 適用于 D、F、G、J、K 級、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機
更新日期：2024-03-20 訪問量：1223
日本imt獨立負載型自動拋光機 Rana-3 Rana-3采用單獨加載方式，可自由設置1-6個樣品。 由于可以改變支架的轉數，所以可以在相同的轉數下對支架和盤進行拋光，并且拋光表面不會傾斜或變成鉛筆狀。 支架和圓盤都可以向前和向后旋轉。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1418
日本imt滾筒式樣品拋光機SP-As1 / As2 用于安裝拋光機 IM-P2 的滾筒式樣品旋轉機。 拋光非嵌入樣品時，可將SP-As1連接到拋光機IM-P2上，實現自動拋光。 非常適合長時間低速包裹的樣品。 也可提供與樣品匹配的定制支架。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1632
日本imt實驗拋光機組合IM-P2+SP-L1 用于安裝拋光機 IM-P2 的樣品旋轉機。 拋光嵌入樣品時，將 SP-L1 連接到拋光機 IM-P2 以啟用自動拋光。 由于可以改變磁頭轉速，因此可以以相同的轉速對支架和光盤進行拋光，防止拋光表面傾斜或變成鉛筆狀，并且可以在不失去平行度的情況下進行研磨。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1391
日本imt臺式樣品拋光機 IM-P2 IM-P2是一款于手工拋光的拋光設備。通過改裝樣品旋轉機也可以實現自動化。 工作臺高度便于更換圓盤并用手拋光。 搭載了即使在高轉速和低速范圍內也能產生強大扭矩的電機！
更新日期：2024-03-20 訪問量：1436
低價納米粒子生產設備 直流電弧電源300A，濾波器-1 片RP GHP-150與OMT，循環泵100L /分鐘 皮拉尼真空計（PT-4P），安全閥 水冷電極（與W碼片），納米顆粒熱交換器
更新日期：2025-05-02 訪問量：2209
超細粒子/納米粒子制造設備 超細粒子/納米粒子制造裝置的目的是通過在氫氣（與氬氣混合）或氮氣等氣體氣氛中通過電弧熔化來強制蒸發材料以制造超細粒子/納米粒子。它被開發出來。超細顆粒和納米顆粒的目標材料范圍很廣，包括各種金屬、合金和陶瓷。
更新日期：2025-05-02 訪問量：2258
日本futaku零件噴嘴內表面無損測量儀Arasamir 對于醫療用分配噴嘴，如果用于預測試的樣品保留在噴嘴內，則測試值將波動，并且無法進行準確的樣品分析。 分配噴嘴所需的質量是在內表面沒有劃痕或不規則且沒有殘留物附著的噴嘴。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1664
日本futaku精細零件無損探傷設備Clavelle Elephant 由于自動檢查了放置在通用零件托盤上的微小零件的100，大大減輕了區分目視檢查的負擔，并提高了檢查工作的效率，并且提高了鑒別精度并使其穩定。 它是緊湊型臺式機，是各種小批量零件鑒別檢查的理想選擇。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1705
日本napson手持式探針的電阻測量儀EC-80P 使用手持式探針的手動無損（渦流法）電阻測量儀
更新日期：2025-05-02 訪問量：1343
日本電子技研激光多普勒振動計V100系列 型號名稱V100-LMV100-MSV100-S 測量頻率范圍0.5Hz-300kHz的 速度測量范圍3μm/ s至10 m / s0.05μm/ s至1 m / s0.05μm/ s至0.1 m / s
更新日期：2024-03-20 訪問量：1486
日本port AI敲擊聲音檢查器PDC-100A 從麥克風捕獲要檢查的錘子的敲擊聲，并使用主體內部的機器學習功能來確定混凝土結構內部是否浮空或剝落。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1443
