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反射率測(cè)量裝置MSP-100在光學(xué)薄膜上的運(yùn)用
光學(xué)薄膜的光學(xué)性質(zhì)和功能是通過干涉作用改變光在光學(xué)元件表面的特性，獲得所需要的反射率或者透過率。
“測(cè)試方法"是光學(xué)薄膜制備中極為重要的一環(huán)，它的評(píng)價(jià)和反饋機(jī)制保證了產(chǎn)品的最終光學(xué)性能，其中最為基本和關(guān)鍵的是反射率和透過率測(cè)試。本期主要為大家介紹光學(xué)薄膜的反射率測(cè)試。
以未有的低成本實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域、曲面和超薄樣品的高速、高精度測(cè)量
通過使用特殊的半反射鏡，可以切斷背面反射的光，無需背面處理即可在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行精確測(cè)量。
（可測(cè)量 0.2 mm 薄板的反射率：使用 ×20 物鏡時(shí)）
還可以測(cè)量鏡片曲面和涂層不均勻度。（在樣品表面連接微小點(diǎn)（φ50μm））
即使是低反射率的樣品也可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，并且具有高重復(fù)性。（光學(xué)設(shè)計(jì)捕獲最大量的光，并通過512元件線性PDA、內(nèi)置16位A/D轉(zhuǎn)換器和USB 2.0接口實(shí)現(xiàn)高速計(jì)算實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量。）
可以進(jìn)行色度測(cè)量和L*a*b*測(cè)量。可以使用光譜比色法根據(jù)光譜反射率來測(cè)量物體。
數(shù)據(jù)可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。
單層薄膜可以非接觸式、非破壞性地測(cè)量。
具有在同一屏幕上顯示多個(gè)測(cè)量結(jié)果的功能。輕松比較測(cè)量結(jié)果。
| 型號(hào) | MSP-100 |
|---|---|
| 測(cè)量波長 | 380～1050nm |
| 測(cè)量重復(fù)性 | ±0.2%(380-450nm) ±0.02%(451-950nm) ±0.2%(951-1050nm) |
| 樣品面 NA | NA 0.12（使用 10 倍物鏡時(shí)） |
| 樣品測(cè)量范圍 | φ50μm（使用10倍物鏡時(shí)） |
| 樣品曲率半徑 | -1R~-無窮大, +1R~無窮大 |
| 顯示分辨率 | 1納米 |
| 測(cè)量時(shí)間 | 幾秒到十幾秒（取決于采樣時(shí)間） |
| 外形尺寸 | (寬)230×(高)560×(深)460mm（僅機(jī)身） |
| 工作溫度限制 | 18～28℃ |
| 工作濕度 | 60%以下（無凝露） |
